基于神经网络的储层微观孔隙结构评价方法及装置
授权号:ZL201911037944.5
授权日期:2021-06-04 00:00:00
申请号:201911037944.5
发明作者:廖广志,肖立志,李远征,赖强,张恒荣,胡向阳,梁振,刘育博
专利状态:专利授权
专利类型:发明专利
专利名称:基于神经网络的储层微观孔隙结构评价方法及装置