授权号：ZL201810011504.1

授权日期：2020-07-17 00:00:00

申请号：201810011504.1

发明作者：肖立志,王琳,廖广志

专利状态：专利授权

专利类型：发明专利

专利名称：纳米自组装中间体孔隙结构核磁共振分析方法及装置